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Workshop Fehleranalyse für die Mikroelektronik in Theorie und Praxis

Erhalten Sie einen Überblick der aktuellen Methoden und der Werkzeuge in der Fehleranalyse und erleben Sie einzelne FA-Systeme in einer Live-Demonstration.

Ort: Fraunhofer EMFT, Hansastraße 27d, 80686 München

 

TAG 1 (30.01.2024):

Get-together am Anreisetag ab 18:00 Uhr. Location wird noch bekanntgegeben. Ungezwungener Austausch der Teilnehmer und Experten.

TAG 2 (31.01.2024)

8:45 Uhr Registrierung mit Brezn Empfang

9:30 Uhr Offizielle Begrüßung (EMFT/JPK)

10:15 Uhr Überblick Fehleranalyse I (Andreas Schupp / JPK)

10:45 Uhr Pause

11:05 Uhr  Topography and Deformation Measurement (Dr. Pierre Vernhes / INSIDIX)

11:35 Uhr Überblick Fehleranalyse II (Nicola Kovac / EMFT)

12:05 Uhr Mechanical Decapsulation (Jim Colvin / Ultratec)

12:35 Uhr Pause

14:00 Uhr Labtour EMFT und Talk to the experts in 6 Themenfeldern

                (Laser Decap, Mechanical Decap, Chemical Decap, TDM, REM, ESD)

16:00 Uhr Pause

16:20 Uhr Abschluss Diskussion und Feedback

16:50 Uhr Verabschiedung

 

Kosten: 190 € zzgl. MwSt (inklusive Abendessen am Vortag, Verpflegung am Schulungstag, Schulungsunterlagen und Teilnahmezertifikat). Stornierung kostenfrei bis 04.01.2024, danach Stornogebühr 70%. Eine Vertretung des Teilnehmers ist möglich.

Buchung: Per Email order@jpkummer.eu

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