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Events

Semiconductor Wafer Test Workshop

Wir besuchen den diesjährigen Semiconductor Wafer Test Workshop vom 03.06.-06.06. in San Diego.

Besuchen Sie uns vor Ort!

 

 

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News

Wir freuen uns auf die Zusammenarbeit mit unserem neuen Partner Optotherm Inc.

Die John P. Kummer Group wird hauptsächlich das wegweisende System „Sentris“ für die Fehleranalyse in der Halbleiterindustrie auf dem europäischen Markt vertreiben. Hierbei handelt es sich um ein Thermal Imaging Microscope zur Lokalisierung von niedrigen thermischen Infrarotemissionen durch IC-Fehler wie Kurzschlüsse und Leckströme.

Sprechen Sie uns an! Wir helfen gerne weiter.

Fortführende Information: https://www.optotherm.com/sentris-intro.htm

Wir freuen uns über die Aufnahme in den Verein Silicon Saxony e.V. 

www.silicon-saxony.de

Wir freuen uns auf die zukünftige Zusammenarbeit mit unserem neuen Lieferanten XwinSys.
Die JPK wird die Systeme, basierend auf verbesserter X-Ray Technologie und kombiniert mit automatisierter optischer 2D- und 3D- Technologie, in goßen Teilen Europas vertreiben.
Selbstverständlich bieten wir auch den Service für diese Systeme an.
 
Weitere Informationen finden Sie hier
 
 
Wir sind stolz verkünden zu können, dass JPK eine Partnerschaft mit ITC eingegangen ist, um seine Probe Card Analyers und Power Semiconductor-Testsysteme auf dem europäischen Markt zu vertreiben. 
Selbstverständlich bieten wir auch den Service für diese Systeme an.
 
Für weitere Informationen klicken Sie hier

 

Vom 21.02. - 23.02.2018 fand das Global Technichal Meeting unseres Lieferanten OKOS in unseren Räumlichkeiten statt.
Vielen Dank an alle für ihr Kommen! Besonderer Dank gilt dem Team von OKOS.

 

Die John P. Kummer AG ist nun Mitglied beim Swiss Aerospace Cluster -  das Industrienetzwerk für Schweizer Unternehmen aus der Luftfahrt- und Raumfahrt sowie der Satellitennavigation sowie Hochschulen, Forschungsinstitutionen etc.

 

Wir freuen uns über die Aufnahme im Forum Luft-und Raumfahrt Baden-Würrtemberg e.V. und sind gespannt auf zukünftige Projekte.

www.lrbw.de

Zur Verstärkung unseres Vertriebs suchen wir für den Standort Augsburg befristet (2 Jahre) und in Vollzeit ab sofort eine(n)

Teamassistent(in)

Weitere Informationen unter Karriere

Fehleranalyse kompakt vermittelt in Theorie und Praxis – Workshop am 30.11.2017 bei der John P. Kummer GmbH

Vielfältige Anwendungen in der Halbleiterindustrie und Mikroelektronik, gepaart mit einem spezifischen Anforderungsprofil an Laborinfrastruktur, Budget und Erfahrung, erfordern individuelle Fehleranalysemethoden. Im Schwerpunkt werden das Dekapsulieren, die zerstörungsfreie Ultraschallmikroskopie (SAM) und das Cleaving (Wafer brechen) behandelt.

Zusätzlich wird in diesem Seminar das Industrie übergreifende Themengebiet NDT (Non destructive Testing) beleuchtet. Nach einer theoretischen Grundlagenvermittlung werden ebenfalls praktische Vorführungen an ausgewählten Systemen durchgeführt. Unsere Applikations- und Serviceingenieure begleiten uns an diesem Tag mit Ihrer Expertise.

Wir freuen uns auf Ihr Interesse und stehen bei Fragen zum Workshop zur Verfügung.

Anmeldung

Am 15.11.2016 fand schon zum zweiten Mal in diesem Jahr unsere Inhouse-Schulung „Klebstoffe & Klebetechnik - DIN 2304 und DCS Analyse" statt.
Die Schulung war komplett ausgebucht und stieß auf positive Resonanz bei den Teilnehmern. Die John P. Kummer GmbH bedankt sich bei den Teilnehmern!
Weitere Schulungen im Jahr 2017 sind geplant.
 
Impressionen:
"Dozenten waren super!"
"Die Vorträge der Referenten mit sehr verschiedenem Background haben den Tag sehr spannend gemacht"
"Das Gesamtkonzept stimmt"