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ISO Zertifizierung 10993 für die Medizintechnik – EPO-TEK®OG198-54, 353ND-T und 301
Cham, April 2015 - Epoxy Technology Inc., Hersteller seit 49 Jahren von Epoxies, UV-Epoxies und Hybrid-Epoxies, hat 3 weitere Produkte auf ISO 10993 testen lassen. Damit zeigt die Firma erneut ihr starkes Engagement für die Medizintechnik. Die getesteten Produkte sind EPO-TEK® 353ND-T, OG198-54 und 301, welcher jetzt zusätzlich noch einem Test für 12 Wochen Implantationszeit unterzogen wurde.
ULTRA TEC: ARC-lite Antireflective Coater
Antireflective backside coatings are NIR optimized with no baking
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http://www.asminternational.org/web/edfas/news/-/journal_content/56/10180/23558008/NEWS
ULTRA TEC: UPGRADED ULTRACOLLIMATOR
Laser-based illumination module offers up to four times tilt alignment accuracy
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OKOS gibt die Eröffnung von OKOS EU bekannt
Neuer Reiter "Dienstleistung"
Ab sofort finden Sie auf unserer Webseite unter dem Oberbegriff "EPO-TEK Klebstoffe®" auch den Reiter "Dienstleistung"!
Hier erhalten Sie Informationen zu den Themen "Prozessanlayse" und "Schulungen".
www.jpkummer.com/de/Dienstleistung
EPO-TEK® 353ND-T jetzt nach ISO 10993 zertifiziert
Es freut uns, Ihnen mitzuteilen, dass ein weiteres EPO-TEK® Produkte nach ISO 10993 zertifiziert worden ist: Epo-Tek 353ND-T.
Epo-Tek 353ND-T ist eine formstabile (thixotrope) Version von Epo-Tek 353ND. Er wird u.a. oft eingesetzt für hochtemperaturbeständige Verklebungen.
Getestet wurden die folgenden ISO Klassen:
- 10993-5
- 10993-6
- 10993-10
- 10993-11
Für ergänzende Auskünfte stehen wir Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung. Wir freuen uns, von Ihnen zu hören.
Electrical Products
Resistivity Standards
- 76.2 mm, 200 mm, or 300 mm silicon wafers
- Used with 4-Point Probes, Eddy Current Gauges
ITO Sheet Resistance Standards
- 125mm x 125mm x 0.7mm
- 90% In2O3:10% SnO2 plates
Film Thickness Products
Silicon Dioxide Standards
- Uniform layer of silicon dioxide on silicon wafers
- Used with Ellipsometers, Reflectometers, Film Monitors
Silicon Nitride Standards
- Layer of Silicon Nitride (LPCVD) on silicon wafers
- Used with Ellipsometers, Reflectometers, Film Monitors
Dimensional Products
NanoCD Standards
- 25, 45, 70 and 110 nm Line Width
- Used with SEMs and CD-AFMs
Nanolattice Standard (NLS)
The NanoLattice Module Standard (NLSM) is a CD SEM calibration standard which enables accurate sub 0.13 μm lithography. The NanoLattice has the 0.1 μm pitch required for sub 0.13 μm SEM magnification calibration and characterization of non-linearity across the field of view.