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Unser neuer Lieferant XwinSys

Wir freuen uns auf die zukünftige Zusammenarbeit mit unserem neuen Lieferanten XwinSys.
Die JPK wird die Systeme, basierend auf verbesserter X-Ray Technologie und kombiniert mit automatisierter optischer 2D- und 3D- Technologie, in goßen Teilen Europas vertreiben.
Selbstverständlich bieten wir auch den Service für diese Systeme an.
 
Weitere Informationen finden Sie hier
 
 
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Unser neuer Lieferant ITC

Wir sind stolz verkünden zu können, dass JPK eine Partnerschaft mit ITC eingegangen ist, um seine Probe Card Analyers und Power Semiconductor-Testsysteme auf dem europäischen Markt zu vertreiben. 
Selbstverständlich bieten wir auch den Service für diese Systeme an.
 
Für weitere Informationen klicken Sie hier

 

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Probilt™ Probe Card Analyzer PB6500

The Probilt PB6500 has many features that make it the ideal analyzer for all probe card technologies, including the latest probe tip geometries being used to test leading edge semiconductor devices. Its excellent electrical measurement capability and the ability to drive relays on any channel make it the best tool for probe cards with complex circuits and relays on the PCB. With 300Kg of lift force, it has long been recognized as the analyzer of choice for vertical probe card manufacturers.

Nicht definiert

Fehleranalyse kompakt vermittelt in Theorie und Praxis – Workshop am 30.11.2017

Fehleranalyse kompakt vermittelt in Theorie und Praxis – Workshop am 30.11.2017 bei der John P. Kummer GmbH

Vielfältige Anwendungen in der Halbleiterindustrie und Mikroelektronik, gepaart mit einem spezifischen Anforderungsprofil an Laborinfrastruktur, Budget und Erfahrung, erfordern individuelle Fehleranalysemethoden. Im Schwerpunkt werden das Dekapsulieren, die zerstörungsfreie Ultraschallmikroskopie (SAM) und das Cleaving (Wafer brechen) behandelt.

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