Präzisionsdosierautomaten von NSW-Automation setzen im Bereich der Mikro-Dosierung neue Maßstäbe. Achs-Getrieben über einen Präzisions-Kugelumlauftrieb, dosieren die kartesischen Systeme Fluide mit einer Wiederholgenauigkeit von 5µm präzise auf Ihre Bauteile.
Diese nach dem Endlos-Schnecken-Prinzip arbeitenden Pumpen erreichen ein kleinstes Dosier-Volumen von 0,5 µl mit einer Wiederholgenauigkeit von über 99% - unabhängig von der Materialdichte und Viskosität!
Das Material tropft nicht nach, es wird sanft und pulsationsfrei gefördert. Es sind Systeme für 1K und 2K Materialien erhältlich.
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Auch im Jahr 2019 bieten wir wieder Schulungen in unserem Haus an.
Themenschwerpunkte sind Dosiertechnik und Klebetechnik.
Aktuelle Informationen finden Sie hier
Die John P. Kummer Gruppe freut sich auf die Zusammenarbeit mit unserem neuen Partner Micromanipulator, Hersteller von Sondiersystemen und Zubehör ind er Halbleiterindustrie.
Die Kontaktwinkelmessgeräte der Serie VCA Optima bestechen nicht nur vom Design und der einfachen Inbetriebnahme, sondern auch durch einfache Handhabung und bedienerfreundliche Software. Diese Geräte eignen sich für den Einsatz im R&D Bereich, Qualitätskontrolle und Prozess Engineering. Verschiedene Optionen sind erhältlich, je nach Bedarf des Kunden, wie z.B.
Die Aufnahme des Webinars ist online. Klicken Sie einfach auf den unten stehenden Link!
Epoxy Technology Europe Ltd hat ihre Produktionsstätte in Grossbritannien verdoppelt, um der steigenden Nachfrage an vorkonfektionierten EPO-TEK®-Klebstoffen gerecht werden zu können.
Dies umfasst auch die Bereiche Qualitätskontrolle, die Lagerkapazitäten Tiefkühlen und allgemeines Lager sowie ein kontrollierter Lichtbereich für UV-Licht empfindliche Klebstoffe.
Due to the continued decrease in integrated circuit feature size and supply voltages, detecting and locating the miniscule amount of heat generated by failure sites has become increasingly difficult. The Sentris thermal imaging microscope pinpoints the low-level infrared thermal emissions by IC faults such as short circuits and leakage current.
Due to the continued decrease in integrated circuit feature size and supply voltages, detecting and locating the miniscule amount of heat generated by failure sites has become increasingly difficult. The Sentris thermal imaging microscope pinpoints the low-level infrared thermal emissions by IC faults such as short circuits and leakage current.